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社外発表(論文)|2003年

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エネルギー

タイトル 掲載誌名など
Materials design of perovskite-based oxygen ion conductor by molecular dynamics method Solid State Ionics 160(1), 99-101, 2003
燃料極支持型低温作動SOFCセル 燃料電池開発情報センター出版刊「日本における燃料電池の開発」, 2003

エコロジー

タイトル 掲載誌名など
高効率水素分離膜の開発 燃料電池 Vol.3, No.2, 2003
ゼオライト膜を分子ふるいとして活用したガス分離技術 工業材料 51(2), 66-69, 2003
メンブレンリアクター実用化の可能性 ペトロテック 26(307), 563-566, 2003
多孔体上に形成したPd膜による水素分離 セラミックデータブック(工業製品技術協会) 31(85), 2003

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エレクトロニクス

タイトル 掲載誌名など
Visible red light emission from Eu-doped GaN quantum dots grown by plasma-assisted MBE Proceeding of 5th International Conference on Nitride Semiconductors(ICNS-5), Nara, Japan, No.7, 2695-2698, 2003
Reduction of the bowing in MOVPE AlGaN/GaN HEMT structures by using an interlayer insertion method Proceeding of 5th International Conference on Nitride Semiconductors(ICNS-5), Nara, Japan, No.7, 2512-2415, 2003
MOVPE growth and n-type conductivity control of high-quality Si-doped Al0.5Ga0.5N using epitaxial AlN as underlying layer Proceeding of 5th International Conference on Nitride Semiconductors(ICNS-5), Nara, Japan, No.7, 2128-2131, 2003
Growth of 100-mm-diameter AlGaN/GaN heterostructures on sapphire substrates by MOVPE Proceeding of 5th International Conference on Nitride Semiconductors(ICNS-5), Nara, Japan, No.7, 2091-2094, 2003
High-quality AlN epitaxial films on (0001)-faced sapphire and 6H-SiC substrate. Proceeding of 5th International Conference on Nitride Semiconductors(ICNS-5), Nara, Japan, No.7, 2023-2026, 2003
40-Gb/s X-Cut LiNbO3 Optical Modulator with Two-Step Back-Slot Structure Journal of Lightwave Technology 20(12), 2110, 2003
Thermal Desorption Behavior of AlF3 formed on Al2O3 Japanese Journal of Applied physics 42, 680-683, 2003
窒化物半導体材料の技術動向 窒化物半導体材料の技術動向/21世紀のあかりプロジェクト
反応溶浸法による複合材料の開発 セラミックデータブック(工業製品技術協会) 31(85), 2003

分析・基盤技術

タイトル 掲載誌名など
Chemical State of Semiconducting SmS Thin Films by XPS Measurement Surface Science Spectra 10(1-4), 8, 2003
Thermo-coloration of SmS thin films by XPS in situ Observation Applied Surface Science, 212-213, 38-42, 2003
X-ray photoelectron spectroscopy of the polycrystalline AlN surface exposed to the reactive environment of XeF2 Applied Surface Science, 217(1-4), 82-87, 2003
X線光電子分光法の深さ方向分析におけるAu/Cr/SiO2界面での帯電現象の研究 Journal of the Vacuum Society of Japan 46(6), 491-496, 2003
ファインセラミックス及び関連原料の化学分析方法に関する研究 分析化学 52(4), 283, 2003

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